分光干涉式激光位移计

产品阵容

SI-T 系列 - 分光干涉位移型多层膜厚测量仪

实现了层层膜厚, 利用近红外光・沒有影响, 实时公交一直在线检验,瞬间1000次的抽样率,为在当今膜厚估测仪的供应新的可以性。

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SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

区块链行业超小小型传调节器器头,超长控制精度,处理好了嵌入网上零部件传调节器次的升温原因,也不是受电磁能的噪音后果。

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SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

分为近红外 SLD,哪怕已贴附 BG 带也可预估晶片自己的板材的厚度。哪怕晶片表明来源于鉴于蝴蝶图案而有的可观一定的差异,也可推动精确的加工线上支付预估。

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